光源作為一種基礎(chǔ)的設(shè)備，在光通信、激光雷達、激光切割、激光醫(yī)療等各行各業(yè)廣泛使用。在光源的研發(fā)、生產(chǎn)和測試過程中，面臨測試速度慢、邊模小信號尋找難、測試效率低等突出的問題。為解決上述問題，思儀科技的Ceyear 6362D光譜分析儀開發(fā)了針對性的測試功能。

圖1 Ceyear 6362D光譜分析儀

1.解決測試速度的問題

對于光源生產(chǎn)過程，往往需要更快的測試速度，來提高測試，生產(chǎn)效率，通常通過改變采樣點數(shù)，靈敏度，掃描速度等操作，當(dāng)Ceyear 6362D在“X2”速度模式下，單次掃描時間最快可達200ms，保證測試精度的同時，可以滿足光源生產(chǎn)線的高速測試需求，節(jié)省工時成本。

圖2 光譜儀參數(shù)設(shè)置界面

2.解決精準(zhǔn)測試問題

在研發(fā)過程中，需要更精準(zhǔn)的測試，Ceyear 6362D在“HIGH3”靈敏度下，動態(tài)范圍最高可達78dB，可測得-90dBm的光譜，能夠探測到功率更低的光信號，從而分辨出被淹沒的邊摸等小信號。

圖3 -90dBm光譜測試

3.提升測試效率的途徑

Ceyear 6362D提供多種自動分析功能，例如DFB光源分析功能（如下圖中所示）、LED光源分析功能、FP光源分析功能等，一次自動分析就可以得到多項激光器指標(biāo)。同時，相關(guān)參數(shù)和測試結(jié)果也支持通過LAN、GPIB遠(yuǎn)程控制，可以大大提高測試效率。

圖4 DFB一鍵分析

作為新一代、高性能近紅外光譜分析儀，Ceyear 6362D在大幅度提升測試效率的同時，測試分辨率、動態(tài)范圍得到大幅度提升，更加滿足各類光源的測試分析需求，為用戶提供更好的測試體驗。