導(dǎo)讀：開(kāi)關(guān)電源的質(zhì)量直接影響到產(chǎn)品的技術(shù)性能以及其安全性和可靠性。電源測(cè)試項(xiàng)目多，計(jì)算量大，統(tǒng)計(jì)繁瑣等問(wèn)題一直困擾著工程師們，為了解決這些問(wèn)題，今天就帶您走進(jìn)開(kāi)關(guān)電源測(cè)試的新世界。
示波器電源測(cè)試分析主要實(shí)現(xiàn)使用示波器來(lái)對(duì)電源(開(kāi)關(guān)電源)進(jìn)行相關(guān)測(cè)試，提高電源開(kāi)發(fā)人員的工作效率，方便對(duì)電源模塊進(jìn)行測(cè)試。主要涉及開(kāi)關(guān)電源(AC/DC)有關(guān)測(cè)試。在大多數(shù)現(xiàn)代系統(tǒng)中，流行的 DC 電源結(jié)構(gòu)是開(kāi)關(guān)電源(SMPS)，這種電源因能夠高效處理負(fù)載變化而聞名。典型 SMPS 的電源信號(hào)路徑包括無(wú)源元件、有源元件和磁性元件。SMPS 最大限度地減少了有損耗的元件的使用量，如電阻器和線(xiàn)性模式晶體管，重點(diǎn)采用(在理想條件下)沒(méi)有損耗的元件，如開(kāi)關(guān)式晶體管、電容器和磁性元件。其主要構(gòu)成如圖 1所示。
圖1 開(kāi)關(guān)電源原理圖
開(kāi)關(guān)電源的測(cè)試參數(shù)主要包括輸入端分析、輸出端分析、磁性元件分析、開(kāi)關(guān)器件分析、調(diào)制分析、環(huán)路分析等，如下表為進(jìn)入電源分析測(cè)試界面后，對(duì)于各個(gè)測(cè)試功能的測(cè)試項(xiàng)目。首先我們先以最常見(jiàn)的開(kāi)關(guān)損耗測(cè)試為例進(jìn)行講解。
一、開(kāi)關(guān)損耗測(cè)試
1. 測(cè)試原理
開(kāi)關(guān)電源的開(kāi)關(guān)器件總是工作在打開(kāi)或關(guān)閉狀態(tài)，可以提供更高的效率。理想情況下，開(kāi)關(guān)器件打開(kāi)和關(guān)閉是沒(méi)有損耗的。如圖2所示。
ON = 完全導(dǎo)通(理想情況下 V = 0, 意味著開(kāi)關(guān)損耗 P = V x I = 0)
OFF = 完全關(guān)閉(理想情況下 I = 0,意味著開(kāi)關(guān)損耗 P = V x I = 0)
圖2 理想開(kāi)關(guān)器件
但現(xiàn)實(shí)情況中，是在存功率損耗的。主要包括開(kāi)關(guān)損耗，傳導(dǎo)損耗。如下圖 3 所示。
圖3 實(shí)際損耗
針對(duì)功率損耗主要計(jì)算主要包括三部分之和：
導(dǎo)通過(guò)程損耗+關(guān)閉過(guò)程損耗+導(dǎo)通損耗
2. 測(cè)試步驟
? 開(kāi)關(guān)元件分析的接線(xiàn)示意圖如下圖4所示。其中通道 1 使用高壓差分電壓探頭接開(kāi)關(guān)的兩端，通道 2 使用電流探頭接開(kāi)關(guān)的一端
圖4 開(kāi)關(guān)元件接線(xiàn)示意圖
