在電子測試測量領域，信號發(fā)生器堪稱 “信號之源”，為各類電子設備與系統(tǒng)的研發(fā)、測試及校準提供關鍵激勵信號，其技術水平直接影響測試精度與效率。深入了解信號發(fā)生器技術，對儀商網(wǎng)用戶把握行業(yè)動態(tài)、精準選型意義重大。

從基礎原理看，信號發(fā)生器核心在于產(chǎn)生特定頻率、波形與幅度的電信號。傳統(tǒng)模擬信號發(fā)生器多基于 LC 振蕩電路，通過電感與電容組合產(chǎn)生正弦波等基礎波形，經(jīng)放大器調整幅度，濾波器優(yōu)化波形純度。但這種方式頻率精度有限，如早期模擬信號發(fā)生器頻率精度多在 ±100ppm。

隨著技術革新，直接數(shù)字合成（DDS）技術崛起。DDS 借助數(shù)字邏輯電路，依據(jù)相位累加器、波形存儲器和數(shù)模轉換器（DAC）工作。先在相位累加器中對參考時鐘進行相位累加，再根據(jù)累加結果從波形存儲器讀取對應波形數(shù)據(jù)，經(jīng) DAC 轉換為模擬信號輸出。這使信號發(fā)生器分辨率大幅提升，可達 μHz 級，頻率切換速度極快，能在微秒級完成。像 Keysight 部分高端型號，利用 DDS 技術實現(xiàn) 10μHz 頻率分辨率，滿足高速、高精度測試需求。

不同類型信號發(fā)生器各有獨特技術要點。射頻信號發(fā)生器，在 5G 通信測試中，需具備超寬帶信號生成能力，以支持 5G 高達 400MHz 甚至 1GHz 帶寬信號。同時，要保證極低誤差矢量幅度（EVM）和相位噪聲性能，如測試 256QAM 等高階調制信號時，EVM 典型值需優(yōu)于 - 45dB。任意波形發(fā)生器側重于復雜波形生成，高采樣率和深存儲深度是關鍵。如 Keysight M8199A 采樣率達 256GSa/s，可生成 120GHz 帶寬超寬帶信號，用于模擬復雜電磁環(huán)境等場景。

當下，信號發(fā)生器技術朝著更高頻率、更寬帶寬、更低噪聲方向發(fā)展。隨著 6G 研究推進，太赫茲頻段（100GHz 以上）信號發(fā)生器研發(fā)提上日程，面臨信號在空氣中衰減嚴重、高頻段測試損耗大等挑戰(zhàn)，需研發(fā)高性能天線與近場測試技術應對。在多通道同步方面，Massive MIMO 測試對通道間相位同步要求達納秒級，精密時鐘同步技術成為保障測試精度的核心。

信號發(fā)生器技術持續(xù)迭代，為電子產(chǎn)業(yè)發(fā)展注入強大動力。儀商網(wǎng)用戶在選擇信號發(fā)生器時，應依據(jù)自身應用場景，如通信、工業(yè)自動化、科研等，綜合考量頻率范圍、精度、帶寬、調制方式等技術指標，挑選適配產(chǎn)品，緊跟行業(yè)技術前沿，把握發(fā)展機遇。