伴隨著光通信技術(shù)的快速發(fā)展，硅光芯片、光器件、光模塊及中短距離光通信網(wǎng)絡（如機載、車載光網(wǎng)絡）的精確故障定位與診斷，已成為研發(fā)人員工作中的瓶頸。上述場景對測試設(shè)備分辨率、靈敏度要求較高。為解決該難題，“思儀科技”推出了基于OFDR（光頻域反射技術(shù)）的微米級光纖鏈路測試方案。

圖 1  微米級光纖鏈路測試方案

本方案攻克了偏振衰落效應抑制技術(shù)、掃頻非線性補償技術(shù)、事件分析技術(shù)等難題，能夠以20微米空間分辨率探測鏈路內(nèi)部構(gòu)成，單次掃描即可獲取損耗曲線，最短測量時間僅需5秒。本方案可快速精確的提供各器件插回損、位置等關(guān)鍵信息，真正做到芯片級“可視化”。

a 全局視圖

b 標記處局部放大

圖 2  可調(diào)光衰減器模塊測試效果

a 全局視圖（紅色：非導通狀態(tài)，藍色：導通狀態(tài)，下同）

b 標記處局部放大

圖 3  光開關(guān)模塊測試效果

圖2、圖3為本方案實際測試效果圖。憑借著微米級分辨率與高靈敏度的優(yōu)勢，圖中測試曲線清晰反映了可調(diào)光衰減器模塊、光開關(guān)模塊內(nèi)部密集的事件點（熔接點、耦合器、特殊結(jié)構(gòu)等）。結(jié)合事件分析技術(shù)，微米級光纖鏈路測試方案能夠?qū)κ录c進行自動檢測，輔助用戶精確定位故障位置，并獲取關(guān)注區(qū)域插回損。對待測鏈路多次測量，長度測試重復性小于100微米。

思儀科技開發(fā)的微米級光纖鏈路測試方案可廣泛應用于各類光通信器件的研發(fā)、生產(chǎn)領(lǐng)域，大幅提高用戶測試效率，降低測試成本。同時本方案擴展性強，可根據(jù)用戶實際需求添加功能模塊、定制系統(tǒng)軟件。思儀科技持續(xù)關(guān)注光電測試需求，致力于為用戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和服務，期待與您的合作。