隨著社會(huì)對(duì)流量的爆發(fā)式需求，光通信速率已經(jīng)步入1TBit/s門檻，光通信系統(tǒng)中光器件的波長相關(guān)損耗（WDL）和偏振相關(guān)損耗（PDL）的影響不容忽視，如何降低測試成本和難度，增加測試速度和精度越來越成為測試人員關(guān)注的焦點(diǎn)。針對(duì)WDL和PDL的參數(shù)快速測試難題，“思儀科技”最新開發(fā)了波長快速掃描測試方案（圖1）。

圖 1  波長快速掃描測試方案

本方案結(jié)合公司自主研發(fā)的6317A可調(diào)諧激光源、9951A光波測試平臺(tái)，集成相關(guān)算法，優(yōu)化了波長快速掃描測試。關(guān)于WDL的測試方法行業(yè)通用，但是PDL不同測試方法有不同適用場景（如下表所示），綜合各測試方法的特點(diǎn)，穆勒矩陣法更適合 PDL波長特性的測試，因此本方案采用穆勒矩陣法。

通過實(shí)際的測試驗(yàn)證，“思儀科技”的波長快速掃描測試方案能夠快速、準(zhǔn)確地給出的WDL、 PDL測試結(jié)果，該方案體積小，集成度高，測試儀器由多臺(tái)精簡到兩臺(tái)，并可根據(jù)測試對(duì)象、測試需求擴(kuò)展光衰減器、光開關(guān)等模塊，降低了測試成本50%以上。方案最小采樣時(shí)間可以達(dá)到10μs，準(zhǔn)確度(典型值)可以高達(dá) ±0.02dB（測試效果圖2所示）。

圖 2 波長快速掃描測試軟件（可定制）

“思儀科技”開發(fā)的波長掃描快速測試方案可以快速完成光器件的WDL和PDL測試，可光廣泛應(yīng)用于波分復(fù)用模塊（DWDM、CWDM）、波長選擇開關(guān)（WSS）和集成光芯片的研發(fā)、生產(chǎn)和測試，同時(shí)該方案編程控制方便，可根據(jù)實(shí)際需求定制軟件并集成，實(shí)現(xiàn)一機(jī)靈活多用。波長快速掃描測試方案指標(biāo)如下：

·工作波長：1480nm～1610nm

·掃描速度：1nm/s~200nm/s

·最小采樣時(shí)間：10μs

·PDL準(zhǔn)確度(典型值)：±(0.02+3% PDL) dB

·PDL重復(fù)性(典型值) ：±0.01dB

·WDL準(zhǔn)確度(典型值) ：±0.02dB

·WDL重復(fù)性(典型值) ：±0.01dB