近年來，集成電路技術(shù)得到了快速發(fā)展，特征尺寸不斷縮小，集成度和性能不斷提高。為了減小成本，提升性能，集成電路技術(shù)中引入大量新材料、新工藝和新的器件結(jié)構(gòu)。這些發(fā)展給集成電路可靠性的保證和提高帶來了巨大的挑戰(zhàn)。

可靠性定義中“規(guī)定的時間”即常說的“壽命”。根據(jù)國際通用標(biāo)準(zhǔn)，常用電子產(chǎn)品的壽命必須大于10年。顯然，我們不可能將一個產(chǎn)品放在正常條件下運(yùn)行10年再來判斷這個產(chǎn)品是否有可靠性問題。因此我們常常把樣品放在高電壓、大電流、高濕度、高溫、較大氣壓等條件下進(jìn)行測試，然后根據(jù)樣品的失效機(jī)理和模型來推算產(chǎn)品在正常條件下的壽命。

可靠性是對產(chǎn)品耐久力的測量，我們主要典型的IC產(chǎn)品的生命周期可以用一條浴缸曲線來表示。

集成電路的失效原因大致分為三個階段：

第一階段被稱為早期失效期, 這個階段產(chǎn)品的失效率快速下降，造成失效的原因在于IC設(shè)計和生產(chǎn)過程中的缺陷；

第二階段被稱為偶然失效期, 這個階段產(chǎn)品的失效率保持穩(wěn)定，失效的原因往往是隨機(jī)的，比如溫度變化等等；

第三階段被稱為損耗失效期，這個階段產(chǎn)品的失效率會快速升高，失效的原因就是產(chǎn)品的長期使用所造成的老化等。

高/低溫操作生命期試驗(yàn)

目的：

評估器件在超熱和超電壓情況下一段時間的耐久力

測試條件:

125℃，1.1VCC,動態(tài)測試

失效機(jī)制：

電子遷移，氧化層破裂，相互擴(kuò)散，不穩(wěn)定性，離子玷污等

測試條件：

125℃條件下1000小時測試通過IC可以保證持續(xù)使用4年，2000小時測試持續(xù)使用8年；

150℃條件下 1000小時測試通過保證使用8年，2000小時保證使用28年；

參考標(biāo)準(zhǔn)：

MIT-STD-883EMethod 1005.8

JESD22-A108-A

EIAJED-4701-D101

針對以上測試條件，在選擇環(huán)境箱方面很多工程師朋友一定會有很多問題吧

選擇什么品牌的環(huán)境溫箱來進(jìn)行可靠試驗(yàn)?zāi)兀?

品牌的性價比高不高？

環(huán)境箱的溫度的精確嗎？均勻性和波動度怎么樣？

長時間運(yùn)行穩(wěn)定嗎？1000小時的試驗(yàn)可不能中斷啊

長期運(yùn)行是否節(jié)能？會不會很費(fèi)電呢？

售后服務(wù)怎么樣？有沒有保障？響應(yīng)時間快不快？

東方中科向您推薦愛斯佩克ESPEC品牌的環(huán)境溫箱。

愛斯佩克成立于1947年，近70年來一直致力于環(huán)境可靠性試驗(yàn)儀器的研發(fā)、制造和銷售，并在世界范圍內(nèi)鑄就了品質(zhì)卓越、技術(shù)精良的品牌形象。通過提供環(huán)境試驗(yàn)技術(shù)和相關(guān)服務(wù)，來提高產(chǎn)品可靠性，進(jìn)而推動產(chǎn)品社會的發(fā)展。愛斯佩克不僅包含環(huán)境試驗(yàn)儀器產(chǎn)品，還提供一流的機(jī)械振動、材料試驗(yàn)、數(shù)據(jù)采集及失效分析等配套產(chǎn)品，為客戶建立世界水平的可靠性評估體系提供最佳方案。

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