互補金屬氧化物半導體（CMOS）檢測器能將火花直讀光譜儀（OES）分析提升至全新水平。CMOS技術(shù)是光電倍增管（PMT）（在一些金屬分析儀中用于高端分析）的替代方案。在一些場景中，可將CMOS技術(shù)選作OES應(yīng)用場景的解決方案。

我們列出了您下次購買火花光譜儀時需要考慮基于CMOS的火花光譜儀的四大原因。

01、您缺少購買最昂貴的OES儀器所需的資金

直讀光譜儀是一項投資。此外，從歷史上看，更先進的儀器包含多個光電倍增管，覆蓋寬的波長范圍以檢測許多不同元素。由于PMT價格昂貴，因此包含PMT的這類儀器也很昂貴。CMOS檢測器替代儀器的成本要低得多，且能覆蓋的元素和波長范圍更寬。

02、您需要分析范圍寬的元素

PMT檢測器的工作性能非常出色，可測量含量超低的特定元素。但由于僅針對少數(shù)入射光波長優(yōu)化每個檢測器，因此每個PMT檢測器將只能提供一個通道的結(jié)果。

如果需要測量各種材料中范圍更寬的雜質(zhì)元素和痕量元素，則可投資購買配備很多個檢測器的儀器，但價格會很昂貴（見上述第1點）。基于CMOS的檢測器將測量更寬的光譜范圍，由此可檢測樣品中是否存在更多元素。

03、您預(yù)計會拓展金屬生產(chǎn)的新領(lǐng)域

如今，新合金開發(fā)活動與以往一樣活躍。從開發(fā)用于提高燃油經(jīng)濟性的高強度、輕質(zhì)材料，到植入后為人體所接受的醫(yī)療器械，不斷出現(xiàn)新的材料規(guī)格和客戶需求。

如果您選擇的OES儀器所配備的PMT檢測器已針對您目前所做工作予以優(yōu)化（這對于您目前的應(yīng)用場景來說可能很好），則在采用新應(yīng)用場景的情況下，您可能會發(fā)現(xiàn)您目前所用的儀器實際上已過時。通過選擇基于CMOS的儀器，可讓您在未來有持續(xù)不斷的選擇機會。

04、您需要保持低成本才能保護利潤

鑄造廠、金屬生產(chǎn)廠和制造廠的營運成本很高。更糟糕的是，原材料和回收原料的價格可能因全球市場的不同而存在極大差別。因此，鑄造廠為保持盡可能低且可預(yù)測的所有其他成本而面臨較大壓力。

基于CMOS的OES儀器的操作成本往往低于其PMT同類儀器，因為CMOS技術(shù)僅需極少功率即可操作。我們的OE系列OES火花光譜儀進一步降低真空泵的功耗，并大幅減少分析期間所需的氬氣量。

所有這些方面都與檢出限有關(guān)

如今，如果進行的分析需要的檢出限低于使用CMOS檢測器時所提供的檢出限，則可能仍然需要基于PMT的檢測器。對于使用基于CMOS的檢測系統(tǒng)的日立OE系列，我們發(fā)布了應(yīng)用指南，其中提供了不同基體合金的檢出限表。本文以鋼鐵為例。

您可以看到檢出限極低，但您必須為自己的應(yīng)用場景選擇正確的檢測器技術(shù)，如果存在檢出限要求，則您仍可能必須依賴于PMT檢測器。