ZDL6000示波記錄儀標(biāo)配8個(gè)板卡卡槽，各輸入通道之間相互絕緣隔離，為電源用戶可省下大量高壓差分探頭，可以提供電壓、電流、溫度…等多種輸入板卡，通道最多可達(dá)128CH，為客戶觀測(cè)波形時(shí)序，查找異常信號(hào)提供最佳解決方案。

1、示波記錄儀—驅(qū)動(dòng)時(shí)序測(cè)試

一般測(cè)試驅(qū)動(dòng)時(shí)序的方法是用示波器加差分探頭，測(cè)試MOS的Vgs和Vds，使用電流探頭測(cè)試電感電流，可觀察到對(duì)應(yīng)的驅(qū)動(dòng)信號(hào)質(zhì)量和電感電流工作模式，若是用示波記錄儀進(jìn)行測(cè)試，則不需要差分探頭，測(cè)試更加準(zhǔn)確，并且更加方便，如圖8所示。

圖8 驅(qū)動(dòng)時(shí)序測(cè)試

2、示波記錄儀—異常捕獲與耐久測(cè)試

異常捕獲：電源產(chǎn)品在長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行時(shí)，不知道會(huì)出現(xiàn)什么問題，示波器無法設(shè)置觸發(fā)條件，不容易捕捉到異常，而使用示波記錄儀記錄波形后可進(jìn)行回看，有效捕獲異常波形；

耐久測(cè)試：電源產(chǎn)品需要頻繁on/off實(shí)驗(yàn)，幾千次可能只有一次故障，所以需求記錄儀長(zhǎng)時(shí)間記錄下來分析產(chǎn)品的穩(wěn)定能。

圖9 多路同步耐久測(cè)試

3、元件溫升測(cè)試

設(shè)備中關(guān)鍵部位的溫度異常會(huì)導(dǎo)致設(shè)備性能下降甚至損壞。因此溫升測(cè)試是產(chǎn)品研發(fā)過程中必不可少的一項(xiàng)。使用ZDL6000可以靈活組合電壓采集卡、16通道卡、溫度采集卡等多種板卡同步測(cè)量。例如在溫升測(cè)試中就可以裝配100M卡與溫度卡，同步測(cè)試器件工作電壓、電流以及關(guān)鍵部位的溫升情況。

圖10 元件溫升測(cè)試

總結(jié)

為了保證電源長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行的穩(wěn)定性，要對(duì)電源進(jìn)行全面測(cè)試分析，測(cè)試項(xiàng)目將多達(dá)幾十項(xiàng)，一定要根據(jù)測(cè)試項(xiàng)目，選擇做合適的測(cè)試儀器，發(fā)揮儀器的最大性能，在電參數(shù)、能效、諧波測(cè)試方面用功率分析儀，在隔離測(cè)試、多通道同步分析、耐久測(cè)試、異常捕獲方面用示波記錄儀。