?VLSI測(cè)試和故障診斷

?MEMS儀器和測(cè)試系統(tǒng)

?可測(cè)性和內(nèi)置測(cè)試

?電子測(cè)量與儀器

?光學(xué)儀器及測(cè)量系統(tǒng)

?精密儀器測(cè)量系統(tǒng)

?科學(xué)實(shí)驗(yàn)和分析儀器

?教育儀器與實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)

?聲波探測(cè)系統(tǒng)

?微波/毫米波探測(cè)系統(tǒng)

?衛(wèi)星導(dǎo)航/定位測(cè)量系統(tǒng)

?遙感/對(duì)地觀測(cè)系統(tǒng)

?環(huán)境試驗(yàn)與仿真測(cè)試

?材料物理測(cè)試

?振動(dòng)與噪聲測(cè)試測(cè)量

?可靠性試驗(yàn)測(cè)試

?光、機(jī)、電一體化測(cè)控技術(shù)及其應(yīng)用

?復(fù)雜電磁環(huán)境效應(yīng)與測(cè)控技術(shù)

4. 智能檢測(cè)控制技術(shù)及儀器儀表裝置

?測(cè)控新元件、新材料、新工藝和新裝置

?先進(jìn)傳感器

?先進(jìn)測(cè)量檢測(cè)技術(shù)

?先進(jìn)測(cè)控與儀表裝置

?微納器件與系統(tǒng)

?機(jī)器視覺與成像測(cè)量裝置

5. 軟件技術(shù)/嵌入式系統(tǒng)

?嵌入式系統(tǒng)軟件

?測(cè)試系統(tǒng)軟件

?軟件測(cè)試和可靠性

?控制系統(tǒng)軟件

?Labview

6. 狀態(tài)監(jiān)測(cè)、健康管理與故障診斷

?系統(tǒng)狀態(tài)監(jiān)控

?運(yùn)行設(shè)備狀態(tài)監(jiān)測(cè)