項目名稱：基于FPGA低成本數(shù)字芯片自動測試儀的研發(fā)

 研究目的：應用VertexⅡ Pro 開發(fā)板系統(tǒng)實現(xiàn)對Flash存儲器的功能測試。

 研究背景：

隨著電路復雜程度的提高和尺寸的日益縮減，測試已經(jīng)成為迫切需要解決的問題，特別是進入深亞微米以及高級成度的發(fā)展階段以來，通過集成各種IP核，系統(tǒng)級芯片（SoC）的功能更加強大，同時也帶來了一系列的設計和測試問題。

測試是VLSI設計中費用最高、難度最大的一個環(huán)節(jié)。這主要是基于以下幾個原因：

1、目前的IC測試都是通過ATE（自動測試儀）測試平臺對芯片施加測試的。由于ATE的價格昂貴（通常都是幾百萬美元每臺），因此測試成本一直居高不下，這就是導致測試費用高的最主要原因。

2、隨著VLSI器件的時鐘頻率呈指數(shù)增長，在這種情況下，高頻率、高速度測試的費用也相應的提高。

3、VLSI器件中晶體管的集成度越來越高，使得芯片內部模塊變得更加難測，測試的復雜度越來越大，這又提高了測試成本。

本次研究希望能夠利用FPGA部分實現(xiàn)ATE的測試功能，這樣就可以在某種程度上大幅度降低測試成本，同時有能夠滿足測試的要求。

功能特點：

完整的測試結構，較完善的測試功能。

使用March C的優(yōu)化算法，測試時間較短。

能夠覆蓋Flash存儲器的大部分故障。