泰克科技日前推出一種全新產(chǎn)品品類(lèi)，顛覆了PCI Express測(cè)試方式，改變了產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期、成本和觸達(dá)能力。最新TMT4（Tektronix margin tester 4）打破了PCIe測(cè)試常規(guī)，提供了快速測(cè)試方案。即插即用設(shè)置和簡(jiǎn)便易用的界面相結(jié)合，在幾分鐘內(nèi)就可提供測(cè)試結(jié)果，而此前則要求幾小時(shí)甚至幾天的設(shè)置和測(cè)試時(shí)間，測(cè)試成本經(jīng)常會(huì)攀升到7位數(shù)。

泰克科技公司產(chǎn)品組合方案副總裁兼總經(jīng)理Chris Witt表示，“ TMT4（Tektronix margin tester 4）的最新推出，展示了泰克不斷開(kāi)發(fā)創(chuàng)新測(cè)試設(shè)備，推動(dòng)技術(shù)方案發(fā)展，加快科技進(jìn)步，以獨(dú)一無(wú)二的方式解決實(shí)際問(wèn)題。TMT4為工程師更方便、更快速地實(shí)現(xiàn)技術(shù)進(jìn)步提供了有力的支撐?！?

全新PCIe驗(yàn)證測(cè)試方式

TMT4（Tektronix margin tester 4）顛覆了傳統(tǒng)，為設(shè)計(jì)和驗(yàn)證PCIe Gen 3和Gen 4主板、插卡和系統(tǒng)提供了專(zhuān)用測(cè)試工具。PCIe測(cè)試通常要求復(fù)雜的測(cè)試系統(tǒng)，工程師要有深入的專(zhuān)業(yè)經(jīng)驗(yàn)和知識(shí)，而TMT4則使得各種經(jīng)驗(yàn)水平的工程師都能比以前更快地評(píng)估發(fā)射機(jī)(Tx)和接收機(jī)(Rx)鏈路的健康狀況，大大縮短產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期和擁有成本。該平臺(tái)支持絕大多數(shù)常用的PCIe外形，包括CEM、M.2、U.2和U.3，能夠使用一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)連接器，在PCIe預(yù)置值0-9中測(cè)試最多16條通路。

增強(qiáng)PCIe工作流程，提前發(fā)現(xiàn)問(wèn)題

泰克TMT4（Tektronix margin tester 4）為PCIe測(cè)試提供了前所未有的速度和通用性，特別適合在設(shè)計(jì)和驗(yàn)證過(guò)程中更早、更頻繁地評(píng)測(cè)電路板級(jí)或系統(tǒng)級(jí)鏈路健康狀況。TMT4旨在補(bǔ)充由示波器和BERT組成的全面驗(yàn)證和一致性測(cè)試系統(tǒng)，可以在使用傳統(tǒng)設(shè)備進(jìn)行深入考察前，提前發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)流程的問(wèn)題。

改變游戲規(guī)則的速度和簡(jiǎn)單性

新技術(shù)正變得越來(lái)越復(fù)雜，要求大量的時(shí)間和專(zhuān)業(yè)知識(shí)進(jìn)行驗(yàn)證。通過(guò)全新TMT4（Tektronix margin tester 4），各種經(jīng)驗(yàn)水平的工程師可以在短短20分鐘內(nèi)，在Gen 4速度下，在最多160種通路和預(yù)置值組合中測(cè)試PCIe器件。通過(guò)多路測(cè)試功能，用戶(hù)可以減少執(zhí)行測(cè)試所需的連接變化次數(shù)，明顯改善整體測(cè)試時(shí)間。

幫助英特爾快捷簡(jiǎn)便地進(jìn)行測(cè)試

英特爾公司數(shù)據(jù)中心與人工智能事業(yè)部、嵌入式加速事業(yè)部副總裁兼總經(jīng)理Rina Raman表示，“ 我們的團(tuán)隊(duì)支持泰克開(kāi)發(fā)了這種全新產(chǎn)品品類(lèi)，深知提前獲得洞見(jiàn)信息及更快、更可靠結(jié)果的重要意義。泰克TMT4（TEKTRonIX MARGIN TESTER 4）解決方案基于Intel Stratix 10 FPGA及PCIe，我們的工程師使用起來(lái)非常簡(jiǎn)便，獲得測(cè)試結(jié)果的速度明顯快得多，在大多數(shù)情況下只需幾分鐘，而不是幾小時(shí)。我們已經(jīng)看到這種產(chǎn)品的優(yōu)勢(shì)，其在設(shè)計(jì)流程中發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)問(wèn)題的時(shí)間要早得多?！?

開(kāi)創(chuàng)品類(lèi)的功能

快速掃描模式

可以在幾分鐘內(nèi)，而不是在幾小時(shí)或幾天內(nèi)，在最多16條通路中評(píng)測(cè)Gen 3或Gen 4器件的鏈路健康狀況。

自定義掃描模式

用戶(hù)可以在短短20分鐘內(nèi)，在最多16條通路中，在 PCIe預(yù)置值0-9 (最多160種組合)中掃描Gen 3或4器件，提供更深入的信息。

設(shè)置和配置簡(jiǎn)單

最大限度減少對(duì)高級(jí)工程師的依賴(lài)來(lái)對(duì)設(shè)計(jì)執(zhí)行鏈路健康評(píng)測(cè)。

全面的Tx/Rx協(xié)議功能

可以在一臺(tái)儀器上在鏈路的兩側(cè)，評(píng)測(cè)PCIe Gen 3和Gen 4通信技術(shù)的鏈路健康狀況。

多路測(cè)試功能

減少執(zhí)行測(cè)試所需的連接變動(dòng)次數(shù)，用戶(hù)可以明顯改善整體測(cè)試時(shí)間。

查看鏈路訓(xùn)練參數(shù)

額外洞見(jiàn)使用哪種均衡來(lái)形成鏈路。

支持多種轉(zhuǎn)接器

支持最常用的PCIe外形，簡(jiǎn)便連接主板和插卡DUT，包括CEM、M.2、U.2和U.3。