在大型數(shù)字波束合成天線中，人們非常希望通過組合來自分布式波形發(fā)生器和接收器的信號這一波束合成過程改善動態(tài)范圍。如果關聯(lián)誤差項不相關，則可以在噪聲和雜散性能方面使動態(tài)范圍提升10logN。這里的N是波形發(fā)生器或接收器通道的數(shù)量。噪聲在本質(zhì)上是一個非常隨機的過程，因此非常適合跟蹤相關和不相關的噪聲源。然而，雜散信號的存在增加了強制雜散去相關的難度。因此，可以強制雜散信號去相關的任何設計方法對相控陣系統(tǒng)架構都是有價值的。

在本文中，我們將回顧以前發(fā)布的技術，這些技術通過偏移LO頻率并以數(shù)字方式補償此偏移，強制雜散信號去相關。

已知雜散去相關方法

在相控陣中，用于強制雜散去相關的各種方法問世已有些時日。已知的第一份文獻1可以追溯到2002年，該文描述了用于確保接收器雜散不相關的一種通用方法。在這種方法中，先以已知方式，修改從接收器到接收器的信號。然后，接收器的非線性分量使信號失真。在接收器輸出端，將剛才在接收器中引入的修改反轉。目標信號變得相干或相關，但不會恢復失真項。在測試中實現(xiàn)的修改方法是將每個本振(LO)頻率合成器設置為不同的頻率，然后在數(shù)字處理過程中以數(shù)字方式調(diào)諧數(shù)控振蕩器(NCO)，以校正修改。

圖1所示為ADI公司收發(fā)器ADRV9009的功能框圖。

每個波形發(fā)生器或接收器都是用直接變頻架構實現(xiàn)的。Daniel Rabinkin的文章《前端非線性失真與陣列波形合成》詳細地討論 了各種直接變頻架構。4 LO頻率可以獨立編程到各IC上。數(shù)字處理部分包括數(shù)字上/下變頻，其NCO也可跨IC獨立編程。Peter Delos的文章《寬帶射頻接收器架構的選項》對數(shù)字下變頻進行了進一步的描述。

接下來，我們將展示一種方法，可以用于在多個收發(fā)器上強制雜散去相關。首先，通過編程板載鎖相環(huán)(PLL)偏移LO的頻率。然后，設置NCO的頻率，以數(shù)字化補償施加的LO頻率偏移。通過調(diào)整收發(fā)器IC內(nèi)部的兩個特性，進出收發(fā)器的數(shù)字數(shù)據(jù)不必在頻率上偏移，整個頻率轉換和寄生去相關功能都內(nèi)置在收發(fā)器IC中。

圖2所示為具有代表性的波形發(fā)生器陣列功能框圖。

為了從頻率角度說明概念，圖3展示了一個帶有來自直接變頻架構的兩個發(fā)送信號的示例。在這些示例中，射頻位于LO的高端。在直接變頻架構中，鏡像頻率和三次諧波出現(xiàn)在LO的相對側，并顯示在LO頻率下方。當將不同通道的LO頻率設置為相同的頻率時，雜散頻率也處于相同的頻率，如圖3a所示。圖3b所示為LO2的設置頻率高于LO1的情況。數(shù)字NCO同等地偏移，使RF信號實現(xiàn)相干增益。鏡像和三次諧波失真積處于不同的頻率，因此不相關。圖3c所示為與圖3b相同的配置，只是RF載波添加了調(diào)制。

圖3. 用頻率顯示雜散信號的光譜示例。三個示例：(a) 無雜散去相關的兩個組合CW信號；(b) 強制雜散去相關的兩個組合CW信號；以及 (c) 強制雜散去相關的兩個組合調(diào)制信號。

測量結果

組裝了一個基于收發(fā)器的8通道射頻測試臺，用于評估相控陣應用的收發(fā)器產(chǎn)品線。評估波形發(fā)生器的測試設置如圖4所示。在該測試中，將相同的數(shù)字數(shù)據(jù)應用于所有波形發(fā)生器。通過調(diào)整NCO相位實施跨通道校準，以確保射頻信號在8路組合器處同相并且相干地組合。

圖4. 波形發(fā)生器雜散測試設置。

接下來，我們將展示測試數(shù)據(jù)，比較以下兩種情況下的雜散性能：一是將LO和NCO都設為相同的頻率；二是偏移LO和NCO的頻率。所使用的收發(fā)器在一個雙通道器件內(nèi)共用一個LO（見圖1），因此對于8個射頻通道來說，共有4個不同的LO頻率。