研究目標(biāo)：針對航空和航天設(shè)備高溫環(huán)境條件下材料電磁特性測試評估，以及電子設(shè)備材料電磁參數(shù)的測試需求，突破寬頻寬溫測試夾具設(shè)計制造與校準(zhǔn)標(biāo)定、超寬帶激勵信號發(fā)生與響應(yīng)信號分析等關(guān)鍵技術(shù)，開發(fā)具有自主知識產(chǎn)權(quán)、質(zhì)量穩(wěn)定可靠、核心部件國產(chǎn)化的材料高溫環(huán)境電磁特性測試儀，開發(fā)相關(guān)軟件和數(shù)據(jù)庫，實(shí)現(xiàn)常溫和高溫環(huán)境電磁材料的復(fù)介電考核指標(biāo)：頻率范圍：100kHz~110GHz;動態(tài)范圍：120dB（40GHz以內(nèi)）、110dB（50GHz以內(nèi)）、90dB（110GHz以內(nèi)）;工作溫度范圍：20℃~1000℃;相對介電常數(shù)測試范圍1~100，測試準(zhǔn)確度±5%;相對磁導(dǎo)率測試范圍0.6~10，測試準(zhǔn)確度±5%;測量方法：同軸傳輸線法、波導(dǎo)傳輸線法、諧振腔法、自由空間法、探頭法等;可測材料形態(tài)：塊狀、薄膜、粉末、液體等;平均故障間隔時間≥3000小時。

3.7 空間電離層環(huán)境層析成像測量儀

研究目標(biāo)：針對空間天氣監(jiān)測預(yù)警、地震前兆預(yù)警、空間科學(xué)研究對空間電離層大范圍、不間斷、高精度測量需求，突破空間電離層反射、折射和閃爍效應(yīng)檢測、電離層參數(shù)實(shí)時監(jiān)測與成像反演等關(guān)鍵技術(shù)，開發(fā)具有自主知識產(chǎn)權(quán)、質(zhì)量穩(wěn)定可靠、核心部件國產(chǎn)化的空間電離層環(huán)境層析成像測量儀，開發(fā)相關(guān)軟件和數(shù)據(jù)庫，實(shí)現(xiàn)對電離層總電子含量和電子密度、電離層閃爍等參數(shù)的精確測量。開展工程化開發(fā)，應(yīng)用示范和產(chǎn)業(yè)化推廣。

考核指標(biāo)：絕對總電子含量：測量范圍0~300TECU，測量精度≤3TECU;相對總電子含量：測量范圍0~300TECU，測量精度≤0.03TECU;電子密度：測量范圍106個電子/m3~1013個電子/m3，相對測量誤差≤15%;閃爍指數(shù)：測量范圍0~1.5;測量誤差≤0.1;測量高度范圍60km~1000km;具備電離層不均勻體參數(shù)反演功能;平均故障間隔時間≥3000小時。

3.8 氣液兩相流參數(shù)測量儀

研究目標(biāo)：針對能源、化工等領(lǐng)域?qū)庖簝上嗔鞯姆治鰷y量需求，突破探測器設(shè)計制備、高壓防水密封、多相流層析成像等關(guān)鍵技術(shù)，開發(fā)具有自主知識產(chǎn)權(quán)、質(zhì)量穩(wěn)定可靠、核心部件國產(chǎn)化的氣液兩相流參數(shù)測量儀，開發(fā)相關(guān)軟件和數(shù)據(jù)庫，實(shí)現(xiàn)多相混合物的體積流量、質(zhì)量流量的連續(xù)實(shí)時檢測。開展工程化開發(fā)、應(yīng)用示范和產(chǎn)業(yè)化推廣。