在上一期的內(nèi)容中，主要為大家更詳細(xì)地介紹了部分放電試驗(yàn)的內(nèi)容，同時(shí)還為大家展現(xiàn)了實(shí)際的部分放電試驗(yàn)視頻。經(jīng)過(guò)了兩期內(nèi)容后，大家是不是對(duì)部分放電更加理解了呢？

在這期內(nèi)容，我們的耐壓試驗(yàn) vs 部分放電試驗(yàn)也迎來(lái)了尾聲。在最后的這一期內(nèi)容中，主要會(huì)為大家介紹一下放電劣化的種類以及在進(jìn)行部分放電試驗(yàn)時(shí)會(huì)發(fā)生的一些常見(jiàn)問(wèn)題。

放電劣化的種類

部分放電(電暈)劣化

在絕緣材料內(nèi)部的空隙中，或者是金屬(電極)與絕緣材料之中的空隙中，又或者是沿著絕緣材料的表面的部分等，由于電場(chǎng)集中而產(chǎn)生劣化的現(xiàn)象。

跟蹤劣化

在絕緣材料表面上形成碳化導(dǎo)電通路(Track)或表面被侵蝕而產(chǎn)生劣化的現(xiàn)象。

電樹(shù)枝劣化

固體絕緣材料中局部的電場(chǎng)集中，樹(shù)枝狀地形成放電痕跡(Tree)，劣化逐漸發(fā)展的現(xiàn)象。

電弧劣化

由于暴漏于電弧放電(絕緣破壞前的前兆的最終階段)而引起的熱作用、熔融、碳化物的形成而引起的劣化現(xiàn)象。

常見(jiàn)問(wèn)題

Q1：關(guān)于進(jìn)行部分放電試驗(yàn)時(shí)的溫濕度環(huán)境。

當(dāng)沒(méi)有特別指定時(shí)，使用通常溫度/濕度進(jìn)行試驗(yàn)即可。當(dāng)溫度濕度發(fā)生微小變化時(shí)，電荷量就會(huì)隨之發(fā)生變化，從而導(dǎo)致無(wú)法正確測(cè)定。在進(jìn)行試驗(yàn)時(shí)，請(qǐng)?jiān)谕ǔ囟?濕度或規(guī)定的條件下進(jìn)行試驗(yàn)。

Q2：關(guān)于進(jìn)行部分放電的試驗(yàn)場(chǎng)所。

需要確保與試驗(yàn)電壓相對(duì)應(yīng)的充足的距離。因?yàn)槭褂酶唠妷哼M(jìn)行試驗(yàn)，所以需要準(zhǔn)備安全的試驗(yàn)場(chǎng)所，并在確保了安全距離的情況下進(jìn)行試驗(yàn)。

Q3：如何確認(rèn)放電開(kāi)始電壓/放電熄滅電壓？

放電開(kāi)始電壓以及熄滅電壓上升 · 下降時(shí)通過(guò)脈沖放電，電流會(huì)逐漸上升 · 下降。從而可以得知部分放電的開(kāi)始以及熄滅時(shí)機(jī)。