目前大多數(shù)常規(guī)矢量網(wǎng)絡分析儀(VNA)都是將矢網(wǎng)端口集成安裝在機箱上的，這樣做的目的是將矢網(wǎng)內部的源和測量電路盡量接近，以簡化設計并實現(xiàn)高頻矢量S參數(shù)測量所需的嚴格同步。對于大多數(shù)臺式儀表而言，將端口集成到機箱上并不是什么大問題，因為可以使用較短的高質量同軸電纜連接矢網(wǎng)端口和被測設備，也可以最小化地減少對S參數(shù)測量結果的影響。

但是，隨著測量頻率越來越高，電纜對S參數(shù)測量的影響也開始愈來愈嚴重。雖然可以通過軟件算法，將電纜的影響從測量結果中去除，使測試結果僅反映出DUT的性能。這在常規(guī)的臺式儀表測量應用中，效果很好。因為在臺式儀表應用中，其測量夾具與VNA相當接近，并且電纜和夾具的射頻特性非常穩(wěn)定，因此可以通過上述“去嵌入”的方式有效地消除它們對測量的影響。

但是，并非所有的VNA測量應用場景都是這種穩(wěn)定的環(huán)境。大尺寸的DUT和OTA測試通常需要更長的測試電纜，才能將VNA連接到被測設備或對應的測試天線上，而且大多數(shù)應用還需要移動和重新連接對應的接口電纜，從而影響測量的穩(wěn)定性，比如飛機射頻屏蔽效能和傳播測試應用等(如圖1所示)。

圖1.飛機屏蔽和傳播特性測量示意圖

連接矢網(wǎng)端口到DUT的長電纜可能會對S參數(shù)測量產生一些負面影響。在毫米波頻率下，幾米長的電纜會在DUT和VNA之間，會明顯地增加插入損耗；40 GHz的同軸電纜每米損耗會增加約4 dB。例如大型OTA暗室，矢網(wǎng)位于暗室的外面，一般需要4到5米的微波同軸電纜來將VNA端口連接到源天線和暗室內的被測天線(AUT)。假設每個端口需要5米長的電纜連接到暗室內，那么電纜在40 GHz頻率下會給測量路徑增加40 dB的額外插入損耗，從而顯著地降低了整個測量系統(tǒng)的有效動態(tài)范圍。

對于像遠場天線這樣的測試，由于源天線和測試天線之間的距離要求，存在很大的自由空間路徑損耗。OTA損耗與接口電纜損耗加起來，使得VNA進行這些測量所需的動態(tài)范圍非常高(如圖2所示)，這導致在OTA暗室應用中需要使用非常昂貴的高動態(tài)范圍的VNA。

10米遠，40 GHz頻率對應20 dBi增益天線的自由空間路徑損耗：~44 dB

整體損耗：約88 dB

圖2. 遠距離OTA測試要求VNA具有高動態(tài)范圍

長電纜還會使測量不穩(wěn)定。在環(huán)境溫度發(fā)生微小變化或移動的情況下，同軸電纜會在測量結果中引入幾度相位偏移，這將導致明顯地測量偏差。這些相位偏差是由于環(huán)境條件改變引起的，而這無法避免，因此也很難將電纜的這種影響從測量中去除。

電纜可能產生的相位變化，如圖3所示，該圖闡述了四米同軸電纜在兩個5攝氏度溫度范圍內的相位變化，即使在這些較小的溫度范圍內，相變也很明顯。對于電纜長度通常較長且溫度波動較大的戶外應用來說，這種相變會更加嚴重。

圖3. 同軸電纜相位隨溫度變化

同軸電纜的插入損耗和穩(wěn)定性問題隨著距離和頻率的增加而變得尤為突出，有必要考慮使用除同軸電纜之外的其他方法將VNA連接到DUT。圖4顯示了兩種在長距離連接中替換同軸電纜的常用方法。一種方法是使用混頻器將測試頻率下變頻為較低的中頻頻率，這要求同軸電纜通常具有更好的相位穩(wěn)定性和插入損耗特性；另一種方法是通過將電信號轉換為光信號，從而替換掉同軸電纜，以最大程度地減少高頻損耗和穩(wěn)定性問題。

圖4. 遠距離S參數(shù)測試中的長同軸電纜的替代解決方案

雖然這兩種替代方法都解決了同軸電纜對長距離S參數(shù)測量的諸多負面影響，但增加了復雜性和成本，同時也沒有解決VNA端口遠離DUT的基本問題。將VNA端口移近DUT的概念并不新鮮，比如使用外部倍頻器模塊來解決約60 GHz或更高的測量頻率，即使對于臺式儀表，插入損耗和穩(wěn)定性問題也與上述較長電纜距離的問題類似，成為至關重要的問題。