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日置HIOKI在半導體器件測試中的應用


  來源: 日置HIOKI 時間:2021-01-20 編輯:清風
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● 基本精度:±0.65% rdg.

● 緊湊主機僅機架一半大小,測試頭尺寸僅手掌大小

● 豐富的接觸檢查(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定)

● 分析模式下可以邊掃描測量頻率、測量信號電平邊進行測量


關鍵詞:日置 HIOKI 半導體 器件測試    瀏覽量:42002

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