系統(tǒng)介紹

該系統(tǒng)主要用于電容老化測試，通過給電容施加電壓，同時(shí)同時(shí)施加高溫和高濕的環(huán)境，來加速電容的老化，測試電容的可靠性。系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì)，支持通道擴(kuò)展，并且針對(duì)每一個(gè)電流通道都單獨(dú)實(shí)現(xiàn)監(jiān)測和控制斷開的功能，保證系統(tǒng)在其中某一個(gè)電容失效（短路）的時(shí)候不影響其他的通道。系統(tǒng)適合進(jìn)行大規(guī)模的測試，一次的測試容量可達(dá)幾萬片，因此采用了多電源供電的方式，可選的電源擴(kuò)展規(guī)模，能支持多路電源，即在一次測試中可以配置不同的通道供電電壓不同，從而實(shí)現(xiàn)了同一次長時(shí)間加熱加濕的過程中測試多種規(guī)格的電容。極大提升測試效率。

虹科-萬片電容老化失效測試系統(tǒng)

主要功能

1. 系統(tǒng)主要用于電容的老化測試

2. 系統(tǒng)提供高低溫和濕度環(huán)境。

3. 系統(tǒng)支持一次測試中提供多組可調(diào)電壓值，且每一路電壓可以程控輸入到任意一組電容上。

4. 系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)對(duì)每一路的電流進(jìn)行監(jiān)控，當(dāng)電容失效電流超限時(shí)可報(bào)警或者自動(dòng)斷開該路，不影響其他路的測試。

5. 電流監(jiān)控可以自定義閾值。

6. 系統(tǒng)配備LED面板，試試顯示每一路的失效情況。

7. 系統(tǒng)預(yù)留TCP通訊接口，可以實(shí)現(xiàn)通過TCP遠(yuǎn)程控制和獲取測試數(shù)據(jù)。

8. 系統(tǒng)可以自動(dòng)化測試并且生成測試報(bào)告。

9. 系統(tǒng)配備高阻儀，可以檢測檢測每一路的電容對(duì)應(yīng)的阻值。

10. 測試通道可擴(kuò)展，能達(dá)到一次2000+通道和四萬片以上電容的老化失效測試，極大提升測試效率。

系統(tǒng)組成

為了達(dá)到靈活的電源配置，我們采用了基于LXI的大規(guī)模矩陣，可以實(shí)現(xiàn)電源和測試設(shè)備到電容組的任意路由，同時(shí)采用了虹科電流監(jiān)控模塊，可以同時(shí)監(jiān)測上千個(gè)通路的電流，并且實(shí)現(xiàn)閾值的自定義和自動(dòng)切斷NG短路的被測件，保證系統(tǒng)在有短路的情況下仍然可以正常運(yùn)行測試。

核心設(shè)備

1、基于LXI總線的大規(guī)模矩陣 ：利用矩陣實(shí)現(xiàn)電源和高阻儀的信號(hào)路由

2、虹科電流監(jiān)控模塊：實(shí)時(shí)監(jiān)控每一路的電流，擁有自定義閾值報(bào)警和可配置的超過閾值自動(dòng)切斷的功能

3、可定制的測試軟件：具備了通訊，自動(dòng)化測試，報(bào)表生成，測試管理，人機(jī)接口等功能

關(guān)于虹科測試測量

虹科是一家在測試測量行業(yè)經(jīng)驗(yàn)超過10年的高科技公司，虹科與世界知名的測量行業(yè)巨頭公司Marvin Test以及Pickering Interface合作多年，提供領(lǐng)域內(nèi)頂尖水平的基于PXI/PXIe/PCI/LXI平臺(tái)的多種功能模塊，以及自動(dòng)化測試軟件平臺(tái)和測試系統(tǒng)。事業(yè)部所有成員都受過國內(nèi)外專業(yè)培訓(xùn)，并獲得專業(yè)資格認(rèn)證，所有工程師平均5年+技術(shù)經(jīng)驗(yàn)和水平一致贏得客戶極好口碑。我們積極參與行業(yè)協(xié)會(huì)的工作，為推廣先進(jìn)技術(shù)的普及做出了重要貢獻(xiàn)。至今，虹科已經(jīng)為全國用戶提供了100+不同的解決方案和項(xiàng)目，并且獲得了行業(yè)內(nèi)用戶極好口碑。