輻射發(fā)射測量方法－1Ω/150Ω直接耦合法
德國LANGER公司開發(fā)和生產(chǎn)的用于測量IC引腳傳導(dǎo)發(fā)射的1歐姆/150歐姆組件，符合IEC61967-4規(guī)定的兩種測試方法：1Ω測試法和150Ω測試法。1Ω測試法用來測試接地引腳上的總騷擾電流，150Ω測試法用來測試輸出端口的騷擾電壓。
測試示意圖
測試連接圖
探頭技術(shù)探頭參數(shù)
輻射發(fā)射測量方法－磁場探頭法
德國LANGER公司開發(fā)和生產(chǎn)的用于測量IC引腳的傳導(dǎo)發(fā)射的磁場探頭，符合IEC61967-6測試要求，磁場探頭法是通過測試PCB板導(dǎo)線上的電流來評定集成電路的電磁發(fā)射。芯片引腳通過PCB板上的導(dǎo)線與電源或外圍電路相連，因而它產(chǎn)生的射頻電流可用一個靠近的磁場探頭獲取，由電磁感應(yīng)定律，探頭輸出端的電壓正比于導(dǎo)線上的射頻電流。
測試示意圖
測試連接圖
探頭技術(shù)參數(shù)
