儀商導讀：據悉，中電科儀器儀表有限公司開展T/R組件測試技術研究和工程實踐工作，至今已有將近二十年的沉淀和積累。T/R組件測試系統(tǒng)不是儀器儀表簡單的積木式堆砌，“高精尖”的測試儀器不一定就能搭建出“高精尖”的測試系統(tǒng)，它涉及到測試安全性、收發(fā)調理和測試效率等多方面的問題。

安全是首當其沖要面臨的問題，我們探本清源看看有哪些原因引發(fā)了T/R組件測試安全性問題。

（1）較大的發(fā)射功率

一般來講，T/R組件發(fā)射功率往往比較大，有些組件的發(fā)射功率甚至會高達幾十千瓦。雖然發(fā)射信號的傳輸是在一個屏蔽環(huán)境下，但是不可避免地會存在著泄露，保證測試人員的安全是第一個要解決的安全性問題，以人為本不能只是停留在扯著脖子喊上。另外，在大功率測試條件下，測試通道的阻抗不匹配也會導致發(fā)射信號反串至發(fā)射輸出端口，這也可能燒毀組件，相當于槍手被強制掉轉槍口把自己干掉了。

（2）收發(fā)信號調理

由于T/R組件發(fā)射和接收參數可能會共用某些測試儀器，例如矢量網絡分析儀和信號發(fā)生器等，同時由于T/R組件端口的復用性（發(fā)射輸出端口同時也是接收輸入端口，發(fā)射輸入端口一般也是接收輸出端口，有點繞是不是？），這又會導致收發(fā)測試通道的部分復用，從而使得接收測試儀器與發(fā)射測試通道有可能實現互通互聯。對于這些測試儀器來說，大功率發(fā)射信號可能會給它們致命一擊。如圖1所示，在發(fā)射測試時，如果開關SW4、SW6、SW7發(fā)生切換故障，那么三個不幸者就應運而生了，分別是信號發(fā)生器、噪聲源和矢量網絡分析儀，大功率發(fā)射信號有可能直接與上述三個不幸者親密接觸，一番電閃雷鳴之后就是死一般的沉靜。