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FLIR熱像儀在新一代硅光子光網(wǎng)絡的應用


時間:2017-07-20 作者:FLIR
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 儀商導讀:目前,電子通信發(fā)展迅速,對技術(shù)、裝置等方面也提出了更高的要求。設備制造商也在不斷尋求新的方案,尤其是在熱管理方面將面臨更多的挑戰(zhàn)和壓力,因此,需要通過一款靠譜的熱像儀,隨時監(jiān)控變化,獲取高質(zhì)量的熱像圖。


愛爾蘭科克郡Tyndall國家研究所目前正在探尋高性能光電子器件的組建方案。研究所特別研究小組利用熱顯微鏡系統(tǒng)中的FLIR制冷型中波熱成像儀,清晰地呈現(xiàn)了新一代無源光網(wǎng)絡的硅光子光網(wǎng)絡單元(ONU)圖像。

新一代無源光網(wǎng)絡(PON)

Tyndall光電子封裝小組研究經(jīng)理Dr.LeeCarroll表示:“過去的十年見證了硅光子從出現(xiàn)到成為新一代信息通信技術(shù)應用媒介的發(fā)展過程。采用面對面疊加法(3D集成)在硅光子集成電路(Si-PIC)頂部安裝驅(qū)動器電子集成電路是一種基于光電子平臺實現(xiàn)高速電子解調(diào)與高效分配的實用方案。

Tyndall研究院目前正在研發(fā)用于高速家用光纖網(wǎng)絡連接的新一代無源光網(wǎng)絡(PON)演示模塊。Si-PICPON的核心,它負責在編碼額外信息之后以及反射光信號之前接收輸入光信號(下載)相關(guān)信息。

在該裝置中,連接于Si-PIC頂部的電子集成電路能夠精確分配驅(qū)動光子芯片中光調(diào)制器所需的電子定時信號。


硅光子芯片EICSI-PIC的溫度測量(復合熱圖像)

高頻定時信號產(chǎn)生的熱量會提高EICSi-PIC的溫度,進而嚴重影響光子芯片的性能和可靠性。

熱性能研究

關(guān)鍵詞:儀器儀表 測試測量 熱像儀    瀏覽量:612

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