十多年來,F(xiàn)LIR光學(xué)氣體成像(OGI)熱像儀一直用來可視化各種氣體泄漏。這些OGI熱像儀的開發(fā)是為了“看到”各種氣體,包括碳?xì)浠衔铩⒍趸?、六氟化硫、制冷劑、一氧化碳、氨等。FLIR OGI熱像儀被應(yīng)用于各行各業(yè),包括減少排放、提高生產(chǎn)效率和確保安全的工作環(huán)境。與其他檢測技術(shù)相比,OGI熱像儀的一大優(yōu)勢是該技術(shù)能夠在不中斷工業(yè)過程的情況下精準(zhǔn)定位氣體泄漏部件。
從歷史上看,OGI熱像儀一直采用制冷型紅外探測器,與非制冷型紅外探測器相比具有多個優(yōu)勢,但成本往往更高。非制冷型紅外探測器技術(shù)的進(jìn)步使得像FLIR OGI熱像儀這樣的制造商,能夠為相關(guān)行業(yè)設(shè)計和開發(fā)成本較低的OGI解決方案。盡管成本較低,但與使用制冷型探測器的熱像儀相比,使用非制冷型紅外探測器的熱像儀存在一定局限性。
光學(xué)氣體成像背后的科學(xué)
在我們討論OGI熱像儀中制冷或非制冷探測器的問題之前,我們可以先解釋這項技術(shù)背后的理論。光學(xué)氣體成像可以比作通過普通的攝像機進(jìn)行觀察,但操作員看到的是一股類似煙霧的氣體噴出。如果沒有OGI熱像儀,這將是肉眼完全看不見的。為了能看到這種氣體飄動,OGI熱像儀使用了一種獨特的光譜(依賴于波長)過濾方法,使它能夠檢測到特定的氣體化合物。在制冷型探測器中,濾波器將允許通過探測器的輻射波長限制在一個非常窄的波段,稱為帶通,這種技術(shù)被稱為光譜自適應(yīng)。
光譜自適應(yīng)
OGI熱像儀利用某些分子的吸收特性,將它們在原生環(huán)境中可視化。熱像儀焦平面陣列(FPAs)和光學(xué)系統(tǒng)專門調(diào)整到非常窄的光譜范圍,通常在數(shù)百納米左右,因此具有超選擇性。只能檢測到由窄帶通濾波器分隔的紅外區(qū)域中的被氣體吸收的紅外波段。大多數(shù)化合物的紅外吸收特性取決于波長。氫、氧和氮等惰性氣體無法直接成像。
黃色區(qū)域顯示了一個光譜濾波器,設(shè)計用于對應(yīng)大部分背景紅外能量將被甲烷吸收的波長范圍。(圖中橫坐標(biāo)代表波長,縱坐標(biāo)代表甲烷氣體的透射率)
如果將OGI熱像儀對準(zhǔn)沒有氣體泄漏的場景,視野中的物體將通過熱像儀的鏡頭和濾光片透射和反射紅外輻射。如果物體和熱像儀之間存在氣體云,并且該氣體吸收濾波器帶通范圍內(nèi)的輻射,那么通過氣體云到達(dá)探測器的輻射量將減少或增加。具體情況要看氣體云與背景的關(guān)系,云與背景之間必須有一個輻射的對比。
總而言之,讓氣體可見的關(guān)鍵是:氣體必須吸收熱像儀看到的波段中的紅外輻射;氣體云必須與背景形成輻射對比;氣體云的表面溫度必須與背景不同。此外,運動使氣體云更容易可視化。
熟悉光學(xué)氣體成像相關(guān)的波長
為了解決理解“制冷與非制冷”光學(xué)氣體成像熱像儀的挑戰(zhàn),您需要了解與光學(xué)氣體成像相關(guān)的波長以及這些熱像儀中使用的探測器。OGI熱像儀的兩個主要波長通常被稱為中波(3到5微米)和長波(7到12微米)。在氣體成像領(lǐng)域,這些區(qū)域也可以稱為“功能區(qū)”和“指紋區(qū)”。在功能區(qū),一個熱像儀可以看到單一類別的更多氣體,而許多單獨的氣體在指紋區(qū)有特定的吸收特征。
幾乎所有碳?xì)浠衔餁怏w都在FLIR GF320的過濾區(qū)域(黃色部分)吸收能量,但在長波或指紋區(qū)域(藍(lán)色部分)有不同的吸收特征
雖然許多氣體在中波和長波區(qū)域都有吸收特性,但也有氣體僅在一個紅外波段發(fā)射和吸收。有些氣體在中波而非長波光譜中發(fā)射和吸收(如一氧化碳/CO)和吸收,另一些僅在長波光譜中發(fā)射和吸收(如六氟化硫/SF6)。這些氣體不屬于指紋或功能區(qū),通常指烴類氣體。下面是CO和SF6氣體的紅外光譜圖。
制冷與非制冷型探測器