2020 年您需要了解的所有低功耗藍(lán)牙 (BLE) 信息
我們生活在一個(gè)幻想與現(xiàn)實(shí)輝映、科技與人文交織、個(gè)體與整體相融、隱私與透明平衡的空間里。在萬物互聯(lián)的世界,一切趨向足夠出色,且性能完美的可穿戴設(shè)備,已然一步步實(shí)現(xiàn)在我們的身邊。
可穿戴設(shè)備通常被定義為物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)最直接的落地應(yīng)用之一,隨著創(chuàng)新技術(shù)的不斷發(fā)展,可穿戴設(shè)備的形態(tài)日趨多樣化,帶動了整個(gè)物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)業(yè)鏈的商業(yè)化延伸,而低功耗藍(lán)牙(BLE)又是可穿戴設(shè)備中應(yīng)用最廣泛的無線連接技術(shù)。過去十年間,相關(guān)用例從連接電腦外圍設(shè)備擴(kuò)展到與可穿戴設(shè)備進(jìn)行全面通信和更多其他應(yīng)用。最新版 Bluetooth®規(guī)范(5.0、5.1、5.2)進(jìn)一步涵蓋了 IoT 領(lǐng)域的更多應(yīng)用。
相較經(jīng)典藍(lán)牙,BLE在保持同等通信范圍的同時(shí),顯著降低功耗和成本,是將不同傳感器、外圍設(shè)備和控制設(shè)備連接在一起的理想選擇。從智能家居、智慧城市、智能工業(yè)等領(lǐng)域,BLE給人類提供了一個(gè)無限可能的智能生活場景,在我們身邊曾經(jīng)簡樸、分割的一切,現(xiàn)在都開始連接,并且變得智能。
無可否認(rèn),在低功耗藍(lán)牙技術(shù)的發(fā)展和推動下,"人機(jī)交互",甚至"人機(jī)共生"將成為我們當(dāng)下和未來生活的常態(tài)。
由于低功耗藍(lán)牙智能設(shè)備越發(fā)強(qiáng)調(diào)外形緊湊小巧與高集成度,對其測試測量的方法也因此有了更高的標(biāo)準(zhǔn),而空口測試 (OTA)當(dāng)仁不讓的將獲得更多的關(guān)注。但為了優(yōu)化測試程序,所有方法優(yōu)勢互補(bǔ)才是最佳選擇。
藍(lán)牙聯(lián)盟 (Bluetooth SIG) 通過認(rèn)證流程的各種測試用例確保設(shè)備具備協(xié)同工作的能力,以及在其交換中具有合格的質(zhì)量和性能,完成聲明后方可獲得藍(lán)牙標(biāo)簽進(jìn)入市場。
讓我們先來先來認(rèn)識一下針對低功耗藍(lán)牙的幾種測試方法:
直接測試模式
直接測試模式(DTM-Direct Test Mode)是一種用于低功耗藍(lán)牙射頻性能測試的模式,也是藍(lán)牙核心規(guī)范的一部分,任何符合藍(lán)牙核心規(guī)范的芯片都能進(jìn)行DTM測試。
DTM通過測試儀器直接連接藍(lán)牙設(shè)備控制接口,執(zhí)行測試項(xiàng)目,自動完成和藍(lán)牙模塊之間的交互命令和藍(lán)牙參數(shù)設(shè)定, DTM可以用于研發(fā)、預(yù)認(rèn)證和一致性生產(chǎn)之中,是目前符合BlueSig 規(guī)范的藍(lán)牙低功耗測試方法。但是缺陷也十分明顯,DTM方法需要額外的控制線通過HCI或UART協(xié)議對藍(lán)牙待測件進(jìn)行測試,這增加了額外的復(fù)雜度,特別對于需要測試不同芯片的實(shí)驗(yàn)室來講,是很痛苦的。并且不同芯片對于DTM的開放程度也不一樣,這樣使得業(yè)界迫切需要新的方法來改善低功耗藍(lán)牙產(chǎn)品測試的方法。
廣播測試模式
市場上的一些低功耗藍(lán)牙設(shè)備體積很小,如果要進(jìn)行DTM測試需要對產(chǎn)品進(jìn)行破壞,而且部分低價(jià)值產(chǎn)品也不會預(yù)留測試接口。比如有些智能手環(huán)和移動標(biāo)簽,R&S®CMW因此提供了廣播模式下的射頻測試方法。即在正常運(yùn)行條件下,通過R&S®CMW對藍(lán)牙設(shè)備在3個(gè)廣播信道上發(fā)射和偵聽的高、中、低信道進(jìn)行偵聽和響應(yīng),進(jìn)行發(fā)射和接收測量,并確定誤包率 (PER) 和靈敏度級別。
廣播測試模式的優(yōu)勢在于,所有低功耗藍(lán)牙設(shè)備都可以進(jìn)行測試,無需額外的產(chǎn)品配置和線纜連接。但該模式只允許基于任意廣播數(shù)據(jù)包對三個(gè)廣播信道進(jìn)行測試,并且測試時(shí)間無法控制,完全取決于待測件的信號廣播周期,因此僅適用于產(chǎn)品的生產(chǎn)測試、質(zhì)量檢驗(yàn)和整機(jī)性能的快速功能測試。
基于連接模式的測試
對于暗室測試和簡單功能測試而言,通過DUT 和綜測儀采用真實(shí)連接進(jìn)行測試,是最簡潔的解決方案,此方法不需要對設(shè)備進(jìn)行任何特定修改或配置。在射頻測試中,測試儀作為主設(shè)備,設(shè)置一個(gè)與被測設(shè)備的連接,使用預(yù)定義的控制命令來測試藍(lán)牙設(shè)備,測試儀可在所有數(shù)據(jù)信道上完成環(huán)路測試。
但這種模式的缺點(diǎn),是無法按照低功耗藍(lán)牙測試規(guī)范的要求,使用具有專用Payload長度和特定Pattern的數(shù)據(jù)進(jìn)行射頻測試,也無法在廣播信道上進(jìn)行測試。
新的BLE測試模式