講座內(nèi)容簡介
測試是太赫茲技術(shù)發(fā)展的重要保障條件之一。隨著太赫茲技術(shù)研究不斷深入及應(yīng)用不斷拓展,對測試提出了更高要求——一是頻率不斷擴展、性能不斷提高、平臺體系不斷完善;二是要求測試更準確、更穩(wěn)定、更高效及更便捷。
本期講座圍繞太赫茲技術(shù)研究和應(yīng)用開發(fā)的測試需求,成體系介紹了技術(shù)進展情況,成體系架構(gòu)了太赫茲測試解決方案,并給出了應(yīng)用示范。
講座嘉賓
鄧建欽
研究員、博士、中國電子科技集團有限公司首席專家
講座時間
2022年11月4日(周五) 15:00-16:00
講座預約
活動三重“福利”
1.幸運觀眾獎:講座中抽取幸運觀眾10位。
2.最佳互動獎:講座中最佳互動觀眾5位。