工程師在執(zhí)行雜散測量時通常需要耗費大量時間，同時還面臨著測試時間與測試范圍之間的折中。利用新的高性能頻譜分析儀功能，Keysight PNA 可以在寬廣的頻率范圍內(nèi)執(zhí)行快速雜散搜索，測試吞吐量相比現(xiàn)有測量方法提升 500 倍。測量結(jié)果可以與當(dāng)前最快、最復(fù)雜的獨立頻譜或信號分析儀相提并論。
VNA 還能夠在所有測試端口上同時實施頻譜測量。這種獨一無二、業(yè)界領(lǐng)先的功能使分析儀只需連接一次便可表征混頻器、轉(zhuǎn)換器、放大器、模塊或子系統(tǒng)，從而縮短設(shè)計周期。例如 LO、RF 和 IF 饋通測量;諧波測量;互調(diào)產(chǎn)物測量;以及其他高階混頻產(chǎn)物測量。
夾具中和晶圓上測量也可以從 VNA 校準(zhǔn)和去嵌入(校正接收機(jī)響應(yīng)誤差，消除電纜和夾具影響)中受益――測試精度將會明顯改善，從而實現(xiàn)更小的測試容限和更苛刻的器件技術(shù)指標(biāo)。
是德科技元器件測試事業(yè)部 PNA 市場經(jīng)理 Steven Scheppelmann 表示：“在同一臺儀器中執(zhí)行高性能頻譜和網(wǎng)絡(luò)測量，可以為您提供無與倫比的洞察力來了解被測器件的特性。此創(chuàng)新還可以取代開關(guān)矩陣和獨立的頻譜分析儀，進(jìn)而滿足日益重要的、減小元器件表征測試系統(tǒng)體積的需求。
VNA 還能夠在所有測試端口上同時實施頻譜測量。這種獨一無二、業(yè)界領(lǐng)先的功能使分析儀只需連接一次便可表征混頻器、轉(zhuǎn)換器、放大器、模塊或子系統(tǒng)，從而縮短設(shè)計周期。例如 LO、RF 和 IF 饋通測量;諧波測量;互調(diào)產(chǎn)物測量;以及其他高階混頻產(chǎn)物測量。
夾具中和晶圓上測量也可以從 VNA 校準(zhǔn)和去嵌入(校正接收機(jī)響應(yīng)誤差，消除電纜和夾具影響)中受益――測試精度將會明顯改善，從而實現(xiàn)更小的測試容限和更苛刻的器件技術(shù)指標(biāo)。
是德科技元器件測試事業(yè)部 PNA 市場經(jīng)理 Steven Scheppelmann 表示：“在同一臺儀器中執(zhí)行高性能頻譜和網(wǎng)絡(luò)測量，可以為您提供無與倫比的洞察力來了解被測器件的特性。此創(chuàng)新還可以取代開關(guān)矩陣和獨立的頻譜分析儀，進(jìn)而滿足日益重要的、減小元器件表征測試系統(tǒng)體積的需求。
