張文修：主要差異在測試條件上，消費電子VCSEL在10 us ~ 3 ms的脈沖測試基本能覆蓋所有產(chǎn)品，但車載激光雷達（LiDAR）VCSEL的測試基本要在100 ns以下的窄脈沖進行測試，甚至在不同的芯片形態(tài)下要做到幾個ns的量級。最主要的原因是車載芯片對功率密度要求較高，VCSEL芯片從5結(jié)、6結(jié)逐步在往更高結(jié)數(shù)演進，更窄的脈沖能將芯片的結(jié)溫保持在合理的水平。

麥姆斯咨詢：面向汽車類激光雷達，VCSEL可靠性測試方面有哪些挑戰(zhàn)？

張文修：可靠性測試主要是通過對芯片的加速老化來發(fā)現(xiàn)在設(shè)計和制造過程中的缺陷。這里分老化和測試兩部分，老化設(shè)備提供加速老化條件使產(chǎn)品老化，測試設(shè)備盡可能還原產(chǎn)品的真實使用工況，來獲取產(chǎn)品的性能參數(shù)，以反映經(jīng)過老化后的性能變化。這兩種設(shè)備均需用到窄脈沖條件，窄脈沖的產(chǎn)生和驅(qū)動源以及驅(qū)動鏈路的感抗有極大的關(guān)系，所以可靠性測試方面都會面臨驅(qū)動源的設(shè)計和測試鏈路布局的挑戰(zhàn)，需要進行大量的仿真和實驗迭代驗證。

麥姆斯咨詢：汽車類激光雷達應用的VCSEL測試方面，產(chǎn)業(yè)鏈對測試項目、測試標準是否已有統(tǒng)一認知或者達成共識？請談談您的理解和看法。

張文修：激光雷達VCSEL在產(chǎn)品形態(tài)上和消費級VCSEL基本相同，測試項目包含光電性能測試（LIV測試、光譜測試）和光斑質(zhì)量測試（遠近場測試），測試項目中包含的參數(shù)計算方法，ISO標準里也有對應的要求，業(yè)內(nèi)已經(jīng)基本達成共識。但由于VCSEL在激光雷達上的應用時間比較短，應用的條件和環(huán)境在變化，需求也在不斷變化，尚未有統(tǒng)一的測試標準。

麥姆斯咨詢：近些年，VCSEL技術(shù)發(fā)展迅速，新的測試需求不斷涌現(xiàn)，菲萊測試針對極窄脈沖的LIV測試及多結(jié)、可尋址VCSEL測試方面有何進展？

張文修：菲萊測試LiDAR VCSEL窄脈沖驅(qū)動設(shè)備在2022年底已經(jīng)發(fā)布，支持多結(jié)產(chǎn)品50 A/60 V/100 ns的窄脈沖測試。多分區(qū)和可尋址VCSEL的測試，在今年7月底也已經(jīng)完成，已經(jīng)在無錫菲光實驗室接受客戶的打樣測試，歡迎前來溝通。

LiDAR VCSEL窄脈沖量產(chǎn)型晶圓測試臺

麥姆斯咨詢：針對汽車類激光雷達廠商，例如禾賽科技、速騰聚創(chuàng)等，菲萊測試提供哪些服務？

張文修：禾賽科技現(xiàn)場有多臺菲萊測試的設(shè)備在使用中，也有一些可靠性代工、測試、分選代工服務與無錫菲光合作，由于和客戶之間有保密協(xié)議，細節(jié)方面不方便透露。

麥姆斯咨詢：入局光芯片測試行業(yè)多年，給您的最深感受是什么？

張文修：光芯片的迭代速度很快。從40 G到400 G的發(fā)展只用了幾年的時間，從指紋解鎖、掃碼支付到現(xiàn)在的人臉識別的普及也只用了短短兩三年時間，這在很大程度上改變了人們的生活質(zhì)量和生活方式。

國內(nèi)光芯片可靠性測試設(shè)備起步較晚，但現(xiàn)在迎著中國制造和中國創(chuàng)造的東風，借助行業(yè)基金的扶持和產(chǎn)業(yè)鏈上下游的相濡以沫，也正在迅速崛起。國產(chǎn)設(shè)備的質(zhì)量、性價比以及后期的服務優(yōu)勢也日益彰顯。隨著國內(nèi)光芯片、光模塊企業(yè)蓬勃發(fā)展，國內(nèi)產(chǎn)業(yè)鏈逐漸完善，全球的重心已在向中國傾斜，這給該行業(yè)的從業(yè)人員和相關(guān)企業(yè)帶來了比較好的機遇。我為自己和公司能身處這個行業(yè)而感到榮幸！

麥姆斯咨詢：您如何看待國內(nèi)企業(yè)在光傳感測試方面的競爭力？處于何種國際水平？

張文修：光傳感測試范圍比較大，就談談我對VCSEL傳感測試方面淺顯的認知吧。VCSEL在傳感方面大規(guī)模的應用應該是從蘋果手機的人臉解鎖功能興起的，那時國內(nèi)該行業(yè)處于起步階段，對于芯片的制造、測試的認知還不完善，測試設(shè)備的選擇也大多優(yōu)先考慮大陸以外的公司。菲萊測試成立之前創(chuàng)始人團隊在謀劃產(chǎn)品路線時，VCSEL可靠性測試便是其中之一，但同時也深知國內(nèi)行業(yè)階段和技術(shù)門檻的機遇與挑戰(zhàn)。