四、MT8852B支持的AoA/AoD射頻測試功能
4.1 輸出功率（Output Power）
恒音擴展（CTE）部分中的Tx等級變化會影響到相位檢測精度。該測量將恒音擴展部分用傳統(tǒng)輸出功率測量方式來計算，得出平均功率值和峰值功率值，判斷是否在目標測量范圍。圖7所顯示的是AoA發(fā)射的實際測量數(shù)值。
圖 7 輸出功率測量界面
4.2 載波頻率偏移量和漂移量（Carrier Frequency Offset and Drift）
與陣列天線同步接收不同，通過天線切換的分時接收信號用于計算相位差。因此，為了保持相位差精度，恒音擴展（CTE）部分必須符合規(guī)定的頻率，并且需要降低頻率偏差。
傳統(tǒng)的載波頻率偏移是基于前導來進行測量，傳統(tǒng)的漂移是基于時間變化來進行測量。而這里的測量是對恒定音調擴展來進行測量。
對前導和payload中的16 μs進行測量，得到平均頻率f0和fp（如圖8所示）。另外還需每16 μs對恒音擴展（CTE）測量得到頻率均值（圖9所示）。
圖 8 恒音擴展(CTE) 參考頻率 (f0, fp)
圖 9 恒音擴展(CTE) 頻率漂移
然后，根據(jù)Payload部分的平均絕對頻移Δf1avg來計算得到fsi(=f3maxi - Δf1avg)，以判斷是否滿足：
圖 10 顯示MT8852B測量該用例的屏幕顯示。為了遵循規(guī)范，MT8852B嚴格檢測符號時序，來確保每個頻率測量位置。其方式與通常的載波頻率偏移和漂移一樣。
圖 10 載波頻率偏移和漂移測量示意圖
4.3 發(fā)射功率穩(wěn)定性（Tx Power Stability）
由于AoD傳輸使用分時來進行天線切換，因此切換時序和響應將對相位差值的計算產(chǎn)生影響。因此，恒音擴展（CTE）必須以穩(wěn)定的功率等級來傳輸。此外，其在天線之間的功率變化必須很小。
如圖2所示，恒音擴展（CTE）有3個間隔，分別稱為Reference period，Switch slot和Sample slot，用于天線切換定時。天線切換必須在切換時隙內執(zhí)行完畢。如果天線切換超過Switch slot間隔，那么Reference period和Sample slot間隔會受到影響。
在判斷發(fā)射功率穩(wěn)定性時，測量平均功率PREF,AVE與參考周期的最大偏差范圍PREF,DEV的比值，以及參考周期和采樣時隙的平均功率Pn,AVE，還有每個時隙的最大偏差范圍Pn,DEV（其中n是每個時隙的數(shù)量）必須滿足以下條件：
· PREF,DEV/PREF,AVE < 0.25
· Pn,DEV/Pn,AVE < 0.25
圖11和12所示該測量項的截圖。使用MT8852B測量每個功率時，每個測量間隔的位置根據(jù)符號時序來準確確定，以按照規(guī)范進行測量。如圖12所示，Sample時隙的Pn,DEV/Pn,AVE的最壞結果值顯示在屏幕上，以便一目了然地判斷所有采樣時隙是否滿足要求。
圖 11 發(fā)射功率穩(wěn)定性測量（參考周期，時隙典型值）
