因應(yīng)全球 LED 市場發(fā)展，芯片與封裝測試大躍進(jìn)：以大量同步測試取代單一手動測試

根據(jù) TrendForce《2021 全球 LED 照明市場報告- 照明級封裝與照明產(chǎn)品趨勢（1H21）》顯示，全球 LED 照明市場發(fā)展樂觀， 2025 年預(yù)估可達(dá) 443 億美金。

LED 照明市場無疑帶動關(guān)聯(lián)的上、中、下游產(chǎn)業(yè)發(fā)展，其中，在生產(chǎn)制程及檢測中，芯片與封裝測試為不可忽視的重要環(huán)節(jié)。在各個制程的最終階段，會透過測試電源，進(jìn)行升溫、調(diào)光、老化測試，確認(rèn)其安全性與精準(zhǔn)度。傳統(tǒng)測試方法僅針對單個或數(shù)個包裝，手動調(diào)整電流進(jìn)行調(diào)光測試，費(fèi)時又費(fèi)力，如今使用可編程直流電源，可一次同時測試多個 LED 芯片，提升測試速率與產(chǎn)能。

實(shí)測 LED 產(chǎn)品老化測試

我們使用 ADG-L 可編程直流電源，進(jìn)行 LED 產(chǎn)品老化測試。透過遠(yuǎn)程計算機(jī)，以 Ethernet 通訊方式，鏈接恒溫恒濕測試機(jī)內(nèi)串并接好的 LED 芯片模塊，提供每個芯片穩(wěn)定的電壓及電流。

藉由 ADG-L 專屬的遠(yuǎn)程操作軟件，設(shè)置編程程序，輸入需求的電壓與電流值，使其重復(fù)循環(huán)、自動跳停，并在計算機(jī)上同步觀察 LED 芯片的測試結(jié)果。

其他 LED 燈源測試應(yīng)用

ADG-L 系列可針對不同的待測物進(jìn)行測試，除了上述的 LED 產(chǎn)品老化測試，業(yè)界也經(jīng)常使用此機(jī)模擬電源輸出擾動，進(jìn)行 LED 燈源的漸層測試與閃頻實(shí)驗(yàn)，確認(rèn) LED 燈是否產(chǎn)生降低視覺功能的炫光，達(dá)到檢測 LED 色溫、亮度和調(diào)光效果。實(shí)際測試狀況，請參考下方 ADG-L 系列介紹影片。

ADG-L 系列具優(yōu)秀的電源規(guī)格特性，適用于高電壓或大電流之測試模擬

ADG-L 系列是一款可編程高功率密度直流電源，相較于他廠，能在同等級輸出容量中，提供較大的電流，15 kW 單機(jī)具 0~135 A、0~1000 V 的電流及電壓輸出，并機(jī)后最大可達(dá) 75 kW、675 A，且內(nèi)建 PFC 主動功率因子校正，輸出功因可高達(dá) 0.99。此外，有寬量程輸出選擇，以及定電壓、定電流與定功率模式，提供客戶多元、完善的選擇。多應(yīng)用于太陽能、電動車、鋰電池、元器件類斷路器、接觸器、保險絲以及實(shí)驗(yàn)室、認(rèn)證單位等，適合需求高電壓或大電流的測試，提供客戶在產(chǎn)品設(shè)計開發(fā)初期的各種模擬，以及產(chǎn)品老化之生產(chǎn)檢測。