多端口PXI矢網(wǎng)的其中一個端口用來給發(fā)射天線提供饋源激勵，被測相控陣天線的多通道輸出可以直接用多端口PXI矢網(wǎng)的其它測試端口一次性接收采集。

發(fā)端饋源探頭（天線）以被測天線孔徑的半波長為間隔進行掃描，在每一個測試頻點和每個發(fā)端饋源探頭位置，都需要重復(fù)以上測量過程。

多端口PXI矢網(wǎng)帶來的速度提升取決于被測相控陣天線的接收通道個數(shù)。

對用于發(fā)射的相控陣天線的近場測試，通常的做法是

以被測發(fā)射天線為中心搭建一個拱面，在拱面上安裝一個可以精確移動位置的接收探頭，或者在拱面不同位置安裝多個探頭完成不同位置的數(shù)據(jù)采集。

這些探頭通過開關(guān)矩陣連接到PNA矢網(wǎng)的測試端口。在每個被測發(fā)射天線的波束角度，都需要在拱面上的所有位置進行信號的采集。

通過探頭的機械移動，或者開關(guān)矩陣切換不同探頭的采集，測量的時間是非常長的。

使用多端口PXI矢網(wǎng)的多個測試端口連接所有的接收探頭，可以一次性采集被測發(fā)射天線每個波束角度下所有拱面位置上的信號，大大提高測試效率，如圖3所示。

圖3 基于多端口PXI矢網(wǎng)的近場發(fā)射天線測試

3、基于多端口PXI矢網(wǎng)的遠場天線測試

圖4是采用了多端口PXI矢網(wǎng)的遠場相控陣天線測試系統(tǒng)。

圖4 基于多端口PXI矢網(wǎng)的遠場天線測試

發(fā)端仍然用信號源做饋源，并通過源天線發(fā)射信號；接收端用多端口PXI矢網(wǎng)代替了基于PNA的外混頻接收系統(tǒng)。

由于PXI矢網(wǎng)的尺寸很小，集成度很高，因此可以放置在靠近被測天線的位置，減小被測天線和矢網(wǎng)之間的線損。PXI矢網(wǎng)的動態(tài)范圍非常高，可以滿足對靈敏度要求很高的天線測試需求。

通過多端口PXI矢網(wǎng)每個端口里邊的測量接收機，可以同時測量參考天線和被測相控陣天線所有輸出通道的射頻信號。

多端口PXI矢網(wǎng)和發(fā)射端信號源、天線轉(zhuǎn)臺通過觸發(fā)電纜進行觸發(fā)同步，可以通過程控自動完成不同頻率、不同轉(zhuǎn)臺角度的多通道數(shù)據(jù)采集。

基于PXI矢網(wǎng)平臺的緊縮場測試以及傳統(tǒng)PNA臺式矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的完整天線測試方案也包含在原始文檔中。