通過軟件處理，分離出各個分量，比如RJ和DJ，以及DJ中的各個分量。對于這種測試，選擇的示波器，長存儲和高速采樣是必要條件，比如2M以上的存儲器，20GSa/s的采樣速率。不過目前抖動測試，各個公司的解決方案得到結(jié)果還有相當(dāng)差異，還沒有哪個是權(quán)威或者行業(yè)標準。

4、TDR測試

TDR測試目前主要使用于PCB(印制電路板)信號線、以及器件阻抗的測試，比如單端信號線，差分信號線，連接器線纜等。

這種測試有一個要求，就是和實際應(yīng)用的條件相結(jié)合，比如實際該信號線的信號上升沿在300ps左右，那么TDR的輸出脈沖信號的上升沿也要相應(yīng)設(shè)置在300ps附近，而不使用30ps左右的上升沿，否則測試結(jié)果可能和實際應(yīng)用有比較大的差別。

影響TDR測試精度有很多的原因，主要有反射、校準、讀數(shù)選擇等，反射會導(dǎo)致較短的PCB信號線測試值出現(xiàn)嚴重偏差，特別是在使用TIP(探針)去測試的情況下更為明顯，因為TIP和信號線接觸點會導(dǎo)致很大的阻抗不連續(xù)，導(dǎo)致反射發(fā)生，并導(dǎo)致附近三、四英寸左右范圍的PCB信號線的阻抗曲線起伏。

5、時序測試

現(xiàn)在器件的工作速率越來越快，時序容限越來越小，時序問題導(dǎo)致產(chǎn)品不穩(wěn)定是非常常見的，因此時序測試是非常必要的。

測試時序通常需要多通道的示波器和多個探頭，示波器的邏輯觸發(fā)或者碼型和狀態(tài)觸發(fā)功能，對于快速捕獲到需要的波形，很有幫助，不過多個探頭在實際操作中，并不容易，又要拿探頭，又要操作示波器，那個時候感覺有孫悟空的三頭六臂就方便多了。

邏輯分析儀用做時序測試并不多，因為它主要作用是分析碼型，也就是分析信號線上跑的是什么碼，和代碼聯(lián)系在一起，可以分析是哪些指令或者數(shù)據(jù)。

在對于要求不高的情況下，可以用它來測試，它相對示波器來說，優(yōu)勢就是通道數(shù)多，但是它的劣勢是探頭連接困難，除非設(shè)計的時候就已經(jīng)考慮了連接問題，否則飛線就是唯一的選擇，如果信號線在PCB的內(nèi)層，幾乎很難做到。

6、頻譜測試

對于產(chǎn)品的開發(fā)前期，這種測試應(yīng)用相對比較少，但是對于后期的系統(tǒng)測試，比如EMC測試，很多產(chǎn)品都需要測試。

通過該測試發(fā)現(xiàn)某些頻點超標，然后可以使用近場掃描儀(其中關(guān)鍵的儀器是頻譜儀)，例如EMCSCANER，來分析板卡上面具體哪一部分的頻譜比較高，從而找出超標的根源所在。

不過這些設(shè)備相對都比較昂貴，中小公司擁有的不多，因此通常情況下都是在設(shè)計時仔細做好匹配和屏蔽，避免后面測試時發(fā)現(xiàn)信號頻譜超標，因為后期發(fā)現(xiàn)了問題，很多情況下是很難定位的。

7、頻域阻抗測試

現(xiàn)在很多標準接口，比如E1/T1等，為了避免有太多的能量反射，都要求比較好地匹配，另外在射頻或者微波，相互對接，對阻抗通常都有要求。

這些情況下，都需要進行頻域的阻抗測試。阻抗測試通常使用網(wǎng)絡(luò)分析儀，單端端口相對簡單，對于差分輸入的端口，可以使用Balun進行差分和單端轉(zhuǎn)換。

8、傳輸線損耗測試

傳輸線損耗測試，對于長的PCB走線，或者電纜等，在傳輸距離比較遠，或者傳輸信號速率非常高的情況下，還有頻域的串?dāng)_等，都可以使用網(wǎng)絡(luò)分析儀來測試。

同樣的，對于PCB差分信號或者雙絞線，也可是使用Balun進行差分到單端轉(zhuǎn)換，或者使用4端口網(wǎng)絡(luò)分析來測試。多端口網(wǎng)絡(luò)分析儀的校準，使用電子校準件可以大大提高校準的效率。

9、誤碼測試

誤碼測試實際上是系統(tǒng)測試，利用誤碼儀，甚至是一些軟件都可做，比如可以通過兩臺電腦，使用軟件，測試連接兩臺電腦間的網(wǎng)絡(luò)誤碼情況。誤碼測試可以對數(shù)據(jù)的每一位都進行測試，這是它的優(yōu)點，相比之下示波器只是部分時間進行采樣，很多時間都在等待，因此漏過了很多細節(jié)。低誤碼率的設(shè)備的誤碼測試很耗費時間，有的測試時間是一整天，甚至是數(shù)天。

實際中如何選用這上述測試手段，需要根據(jù)被測試對象進行具體分析，不同的情況需要不同的測試手段。比如有標準接口的，就可以使用眼圖測試、阻抗測試和誤碼測試等，對于普通硬件電路，可以使用波形測試、時序測試，設(shè)計中有高速信號線，還可以使用TDR測試。對于時鐘、高速串行信號，還可以抖動測試等。