4、一般的芯片測試都包含哪些測試類型？
一般來說，包括引腳連通性測試，漏電流測試，一些DC(directcurrent)測試，功能測試(functionaltest)，Trimtest，根據(jù)芯片類型還會有一些其他的測試，例如AD/DA會有專門的一些測試類型。
芯片測試的目的是在找出沒問題的芯片的同時盡量節(jié)約成本，所以，容易檢測或者比較普遍的缺陷類型會先檢測。一般來講，首先會做的是連通性測試，我們稱之為continuitytest。這是檢查每個引腳的連通性是否正常。
4、一般的芯片測試都包含哪些測試類型？
一般來說，包括引腳連通性測試，漏電流測試，一些DC(directcurrent)測試，功能測試(functionaltest)，Trimtest，根據(jù)芯片類型還會有一些其他的測試，例如AD/DA會有專門的一些測試類型。
芯片測試的目的是在找出沒問題的芯片的同時盡量節(jié)約成本，所以，容易檢測或者比較普遍的缺陷類型會先檢測。一般來講，首先會做的是連通性測試，我們稱之為continuitytest。這是檢查每個引腳的連通性是否正常。
關鍵詞:半導體 芯片 測試 瀏覽量：4362
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