在TD-LTE或者TD-SCDMA等各種時(shí)分信號(hào)進(jìn)行占用帶寬、頻譜發(fā)射模板、鄰道泄露抑制比等頻譜測(cè)試項(xiàng)目時(shí)，需要對(duì)數(shù)據(jù)有效時(shí)隙的信號(hào)，即特定子幀進(jìn)行頻譜分析，TD-LTE幀結(jié)構(gòu)見圖1，這就要求頻譜分析儀在用戶選定的時(shí)間窗口內(nèi)掃描，時(shí)間窗口外停止掃描，這時(shí)需要用到分析儀的時(shí)間門“Gate”的功能。下面簡(jiǎn)單介紹一下如何正確使用頻譜儀的Gate功能。

圖1 TD-LTE信號(hào)典型幀結(jié)構(gòu)

便于理解，以一種典型時(shí)隙信號(hào)TD-SCDMA信號(hào)為例，中心頻率1800MHz，幅度0dBm，其一個(gè)無線幀的寬度（重復(fù)周期）為5ms，時(shí)隙信號(hào)(脈沖寬度)在662.5 us寬度內(nèi)，用Ceyear思儀5264B信號(hào)分析儀測(cè)量的具體操作如下。

1、首先要設(shè)置5264B信號(hào)分析儀中心頻率1800MHz，掃頻范圍10MHz， 需要設(shè)置成1MHz。由于Free run沒有觸發(fā)，所以頻譜在不斷的跳動(dòng)。

圖2 Free run模式下TD-SCDMA信號(hào)的頻譜

2、第二步要去設(shè)置Gate View，也就是選取所要分析的脈內(nèi)信號(hào)。

a)按[掃描]→Gate ，進(jìn)入GATE功能。

b)Gate View選擇on，這時(shí)5264B信號(hào)分析儀進(jìn)入零掃寬（zero span）模式。為了獲得時(shí)域的脈沖包絡(luò)，要把RBW設(shè)置大于0.5倍的脈沖上升時(shí)間的倒數(shù)，也就是RBW盡可能要大。同時(shí)頻譜儀的掃描時(shí)間也要大于一個(gè)完整重復(fù)周期，最好設(shè)置3倍的重復(fù)周期。

c)按BW→RBW: 1MHz，這時(shí)可能還沒有信號(hào)或得到的信號(hào)是不斷抖動(dòng)，需要設(shè)置Gate觸發(fā)源。

d)按[掃描]→Gate→More→Gate source→RF Burst 。

3、設(shè)置Gate View Setup，該步驟要設(shè)置好參考位置和選取Gate時(shí)間段，設(shè)置窗口延時(shí)和窗口寬度來選擇被測(cè)時(shí)間窗。設(shè)置Gate View Sweep Time 10ms約為重復(fù)周期的2倍。 再進(jìn)入到Gate設(shè)置界面。

a)Sweep/control→Gate→Gate View Setup，Gate View Sweep Time：10ms， Gate View Start Time：80us。

b)設(shè)置Gate Delay :3ms，Gate Length：662.5us。

圖3 GATE功能的使用步驟

圖4窗口延時(shí)及窗口寬度設(shè)置