科技不斷在進(jìn)步，對測試的要求也不斷在提高。不同工程師有不同的測試習(xí)慣，不同待測物有不同的測試特性，不同測試場景有不同的測試需求，所以在滿足多樣性的同時(shí)，如何提高測試效率，成了測試儀器的一個(gè)必然發(fā)展趨勢。

如何最大限度的提升用戶使用感受一直是ITECH所追求的，ITECH在創(chuàng)新的同時(shí)也在不斷思考如何讓一些經(jīng)典的明星產(chǎn)品更加升級(jí)，可以滿足更多客戶的使用需求。

例如傳統(tǒng)電子負(fù)載的測試端子都是采用后置，對于頻繁更換待測物的測試，或是需要上機(jī)柜的測試，操作使用就沒有那么友好。當(dāng)然也增加了操作失誤的概率，降低了測試效率。這都是我們在日常工作中會(huì)碰到的實(shí)際問題。

因此，基于客戶的行業(yè)需求，為了更好的幫助工程師解決這個(gè)難題，達(dá)到高效、準(zhǔn)確的工作效果，ITECH在明星產(chǎn)品IT8700的基礎(chǔ)上，增加前置端子，同時(shí)升級(jí)產(chǎn)品性能，推出了升級(jí)版本——IT8700P多路輸入可編程直流電子負(fù)載。

●IT8700P系列采用可抽換式模塊化設(shè)計(jì)，標(biāo)準(zhǔn)4U的單機(jī)框可達(dá)8個(gè)通道，擴(kuò)展機(jī)框可達(dá)16通道。

●IT8700P擁有全球獨(dú)創(chuàng)動(dòng)態(tài)分配功率的技術(shù)，不但保持了25KHz的動(dòng)態(tài)測試速度，并且在8款負(fù)載模組上同時(shí)配置了前置和后置端子，用戶可根據(jù)通道數(shù)和功率需求自由選配，通過主機(jī)框控制面板控制或通過內(nèi)置LAN/RS232/USB/GPIB等接口，由上位機(jī)軟件進(jìn)行控制。

●同時(shí)，IT8700P還對斜率、DAC 輸出速度，CV環(huán)路速度等進(jìn)行了一系列優(yōu)化升級(jí)，能更好的滿足工程師的各種“任性”。

IT8700P系列多路輸入可編程直流電子負(fù)載繼承了ITECH產(chǎn)品一貫的高性能、高品質(zhì)，可應(yīng)用于多路或單路輸出的AC/DC、DC/DC電源轉(zhuǎn)換器、充電器等電源類電子元器件性能的測試，也可應(yīng)用于ATE測試系統(tǒng)、太陽能電池、LED、通訊測試、航空航天等領(lǐng)域。工程師可瀏覽ITECH 官網(wǎng)獲得更多信息，或者可直接搜索“艾德克斯電子”官微可獲得更多的產(chǎn)品應(yīng)用信息。