近日，國(guó)儀量子的鎢燈絲掃描電鏡SEM3200成功交付山東華豐新型材料有限公司。這款掃描電鏡SEM3200將助力華豐新材對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)進(jìn)行全過(guò)程把控，用于檢測(cè)產(chǎn)品表面成份，進(jìn)行材料成分分析、鋼鐵斷口分析、材料失效分析，為其板材產(chǎn)品的品質(zhì)控制與改善提供了高效便捷的技術(shù)保障。
鎢燈絲掃描電子顯微鏡SEM3200是一款高性能、應(yīng)用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡，擁有出色的成像質(zhì)量、可兼容低真空模式、在不同的視場(chǎng)范圍下均可得到高分辨率圖像。大景深，成像富有立體感。豐富的擴(kuò)展性，助您在顯微成像的世界中盡情探索。
掃描電鏡作為現(xiàn)代材料科學(xué)應(yīng)用最廣泛的分析檢測(cè)儀器，在鋼鐵材料分析研究中，可應(yīng)用于材料的微觀形貌與成分分析；材料斷口分析；材料失效分析；材料的晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測(cè)量等。對(duì)鋼鐵材料制造工藝改進(jìn)、品質(zhì)控制有著重要作用。
